影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因

影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的六個(gè)原因
　（1） 覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其差與覆蓋層厚度近似成正比； 　（2） 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)； 　　（3） 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響； 　　（4） 渦流測(cè)厚儀</a>對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的； 　　（5） 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大； 　　（6） 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大。